雙球面像差校正之300kV場發射鎗掃描穿透式電子顯微鏡 EM013400
em4-02

英文名稱:Thermo Fisher Spectra 300 Double-Corrected Transmission Electron Microscope

中文名稱:雙球面像差校正之300kV場發射鎗掃描穿透式電子顯微鏡

英文簡稱:Spectra 300 FEG-S/TEM


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Acknowledgement 格式參考

Thanks to Prof. H. W. Yen and ( Dr. P. H. Chiu or Mr. H. R. Chen ) for the assistance in ( TEM/STEM/EDS ) experiments of the Instrumentation Center at NTU which is supported by the National Science and Technology Council, Taiwan.

儀器專家:顏鴻威 教授(Hung-Wei Yen)

博士:邱柏翰(Po-Han Chiu)

技術師:陳學人(Hsueh-Ren Chen)


 
 
 
 
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