雙球面像差校正電顯EM013400

雙球面像差校正之300kV場發射鎗掃描穿透式電子顯微鏡 EM013400

英文名稱：Thermo Fisher Spectra 300 Double-Corrected Transmission Electron Microscope

中文名稱：雙球面像差校正之300kV場發射鎗掃描穿透式電子顯微鏡

英文簡稱：Spectra 300 FEG-S/TEM

服務項目

TEM 影像觀察：晶粒、界面、析出物、缺陷等微結構分析
STEM 影像分析：HAADF / LAADF 對比、原子級結構觀察
EDS 成分分析：元素分佈圖、線掃描、半定量分析
電子繞射（SAED / NBD）：晶體結構與方位鑑定
低電壓觀測（60–120 kV）：適用於低維材料與有機樣品
高電壓觀測（200–300 kV）：適用於金屬與高密度樣品

適用樣品
薄膜、奈米粉末、金屬材料、陶瓷、生醫材料等
支援 FIB 製備截面樣品觀測
建議厚度：< 100 nm，以確保電子穿透