雙球面像差校正電顯EM013400

英文名稱：Thermo Fisher Spectra 300 Double-Corrected Transmission Electron Microscope

中文名稱：雙球面像差校正之300kV場發射鎗掃描穿透式電子顯微鏡

英文簡稱：Spectra 300 FEG-S/TEM


儀器代碼	EM013400、EM0134

重要規格	加速電壓：60kV至300kV。傾斜角度：正負30度。 X-FEG GUN：超高亮度和穩定度肖特基FEG場發射電子鎗 TEM resolution：300kV之TEM影像使用單光束能譜過濾器( Monochromator )輔佐影像球差修正器( Cs Image )解析度為0.06 nm。 STEM resolution ：300kV STEM影像輔佐球差修正器( Cs Probe )解析度為0.05 nm。 Monochromator：單光束能譜過濾器，可獲得高分辨率的能譜至0.2 eV。 Super-X EDS 系統：配置4個無窗式EDS檢測器，快速收集模式下，點的駐留時間可以短至10 μs。 Micro probe STEM & Epsilon：Micro電子束STEM微曲繞射收集使用分析軟體( Epsilon ) ，可以轉化為應力分布影像功能。

儀器說明	購置年月：2021年2月15日