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1/24(三)雙球差SPECTRA 300 S/TEM研討會,點此下載海報報名連結 TEM工 113-01-12
Spectra 300 Double-Corrected FEG-S/TEM 開放10月預約
雙球面像差校正300kV場發射掃描穿透式電子顯微鏡開放10月份預約,可提供晶體結構鑑定、缺陷分析與成分分析。技術諮詢電洽02-33665928,邱柏翰博士。預約傳送門:https://vir.nstc.gov.tw/home/ViIndexNstc
TEM工 112-09-27
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