訊息內容 發佈單位 日期 本中心雙球面像差校正 300 kV 場發射掃描穿透式電子顯微鏡（EM013400）將於 7/7–7/10 開放 60 kV 低加速電壓時段服務。 如有石墨烯、二維材料或其他電子束敏感樣品之研究需求，歡迎預約使用。首次使用或特殊樣品請先提供樣品資訊供評估。 敬請各研究團隊多加利用。 TEM工 115-06-23 歷史消息2021年至2030年 歷史消息2020年之前