TEM 部分: EM000200

FEI T12 (120 kV, LaB6) ,略低色相比,真空與樣品要求略高,樣品影像觀測,具有cryo stage增加觀測時間。 (貴儀系統預約細項(EM000210)

Cryo-TEM system (with VITRBOT TM Mark IV) 和 3-D cryo –EM by tomography analysis (FEI amira®5)

SEM 部分: EM000100

Hitachi TM3000系統預約細項(EM000102 桌上型掃描式電子顯微鏡)-具有冷凍台進行液態氮處理觀測使用(鮮體/高含水膠體/電紡絲/生醫材料觀測 ).可變真空掃描式電子顯微鏡(Hitachi FlexSEM1000 II)

Hitachi S-4800系統預約細項(EM000104 高解析掃描式電子顯微鏡), 冷場燈絲,附X光能量分散光譜儀(EDX-Bruker FQ5060; 單點/線/面分佈分析)-無機粉顆粒/元件/孔洞材料/觸媒/電紡絲/生醫材料觀測 /磁性樣品(事前通知協助進行消磁作業)/有機纖維/綠能複材.

Hitachi SU8220系統預約細項(EM000107 超高解析冷槍場放射型掃描式電子顯微鏡)-以執照考通過後預約使用,需先具有EM000104 執照資格才能報名特約訓練.

SU8220 STEM系統預約細項(EM000108 超高解析掃描式電顯穿透影像設備)- 此為特殊實驗, 請電洽楊技術師.

HITACHI IM4000PLUS系統預約細項(EM000109 離子切割研磨機含空氣阻斷系統)-樣品前處理耗時, 以實驗長期使用需求安排執照教學,不提供委件服務.

FEI T12 TEM，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上國科會貴儀預約。

高解析 SEM ，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上國科會貴儀預約。

桌上型 SEM (Table-top microsopce)、TM-3000 ELEX SEM，請使用者直接上國科會貴重儀器管理系統預約(現場直接教學)。

可變真空掃描式電子顯微鏡(Hitachi FlexSEM1000 II)特約學習取得執照後，請自行上網預約

高解析SEM每月一號00:00開放下個月預約，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上國科會貴重儀器管理系統預約。

Ion Sputter (鍍金) and Evaporator (鍍碳) 電聯預約安排,現場等候。