TEM 部分: EM000200

Hitachi H7100-75kV,鎢絲燈槍體, 高色相比,更換樣品速度快,樣品影像觀測,開放觀測磁性(需實驗前通知進行消磁作業)、高分子/蛋白質染色(本單位只有1~2% PTA) 、無機顆粒(粉體/水溶液) 、孔洞材料、觸媒、有機纖維或薄膜、複合材料…等。 (貴儀系統預約細項(EM000209)

FEI Tecnai G2 (200 kV, LaB6)高解析穿透式電子顯微鏡 (HR-TEM) , 低色相比,真空與樣品要求高,樣品影像觀測,晶格距離影像拍攝,元素分析圖譜 (Bruker EDX)，晶格繞射影像(Diffraction pattern; DIFF, SAED)，無機顆粒(粉體/水溶液)-請提前製備並保持乾燥 、複合多元材料觀測。 (貴儀系統預約細項(EM000211)

FEI T12 (120 kV, LaB6) ,略低色相比,真空與樣品要求略高,樣品影像觀測,具有cryo stage增加觀測時間。 (貴儀系統預約細項(EM000210)

SEM 部分: EM000100

Hitachi TM3000系統預約細項(EM000102 桌上型掃描式電子顯微鏡)-具有冷凍台進行液態氮處理觀測使用(鮮體/高含水膠體/電紡絲/生醫材料觀測 ).

Hitachi S-4800系統預約細項(EM000104 高解析掃描式電子顯微鏡), 冷場燈絲,附X光能量分散光譜儀(EDX-Bruker FQ5060; 單點/線/面分佈分析)-無機粉顆粒/元件/孔洞材料/觸媒/電紡絲/生醫材料觀測 /磁性樣品(事前通知協助進行消磁作業)/有機纖維/綠能複材.

Hitachi SU8220系統預約細項(EM000107 超高解析冷槍場放射型掃描式電子顯微鏡)-以執照考通過後預約使用,需先具有EM0001045 執照資格才能報名特約訓練.

SU8220 STEM系統預約細項(EM000108 超高解析掃描式電顯穿透影像設備)- 此為特殊實驗, 請電洽楊技術師.

HITACHI IM4000PLUS系統預約細項(EM000109 離子切割研磨機含空氣阻斷系統)-樣品前處理耗時, 以實驗長期使用需求安排執照教學,不提供委件服務.

其他服務: 鍍金、鍍碳、臨界點乾燥(CDP-電話特約週二四下午2:00)、鍍白金，自行操作執照訓練(星期五上午)，電聯詢問課程時間與安排。 碳膜製備教學:星期三上午，請電聯詢問課程時間與安排。

高解析及一般型 TEM 約為一～二個月，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上國科會貴儀預約。

高解析 SEM (S-4800) 約為一～二個月，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上國科會貴儀預約。

桌上型 SEM (Table-top microsopce)、TM-3000，請使用者直接上科技部貴重儀器管理系統預約(現場直接教學)。

FEI T12 TEM，以執照教學訓練為主，取得執照後可自行操作預約，教學時間為星期三上午，請電聯技術師詢問訓練課程時間。

一般型TEM (Hitachi H7100)每月一號00:00開放下個月預約，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上科技部貴重儀器管理系統預約。

高解析TEM (FEI Tecnai G2) 因儀器老舊視儀器狀況調整開放, 週二、四上午委件觀測,其他為執照教學使用時間, 具有一般型TEM使用執照方可進行訓練教學。

高解析SEM (Hitachi S4800)每月一號00:00開放下個月預約，可以隨時上網查詢是否有其他人取消，請使用者直接上科技部貴重儀器管理系統預約。

Ion Sputter (鍍金) and Evaporator (鍍碳) 電聯預約安排,現場等候。

後補預約注意事項 本單位之後補機制為事先電話登記預約，待當天當時段有空缺以電話通知後補，等實驗完成後使用者後補新序號扣款；恕不接受先行於系統上預約。