場發射槍穿透式電子顯微鏡(300KV);附能量散布分析儀 EM003800
em4-01

英文名稱:Philips Tecnai F30 Field Emission Gun Transmission Micro-scope (FEG-TEM), EDAX Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS).

中文名稱:場發射槍穿透式電子顯微鏡(300kV)附加能量散佈分析儀

英文簡稱:FEG-TEM + EDS



預約方式

請直接到貴重儀器中心資訊管理系統預約。

詳細預約流程請參考本站申請須知的預約範例。

星期一、三、五為開放外系委託服務時間

第一操作時段 9:00~12:00

第二操作時段 13:30~16:30



預約等待時間 依預約情況而定


注意事項
  1. 儀器之使用以個人為申請單位,時間排定後有任何問題請於期限內(七天前)自行上網取消,否則酌收基本費用(若預約後無故不到,且無來電通知,視同爽約,罰雙倍價錢)

  • 服務方式:由技術員全程操作,使用者需在場說明所需分析之內容,並請攜帶試片說明表格

  • 開放方式:每週一、三、五共3天上班時間對外服務。本系所學生僅能登記其它時段。

  1. 為使儀器提供給必要研究者使用,避免儀器資源的浪費,本儀器措施如下:

  • 只需普通簡單分析之樣品,建議至其他電顯處使用,以充分發揮本儀器之功能。

  • 試片上機前,至少須有傳統電鏡之明視野照片一張,說明必需觀察的組織位置。

  1. 為減少儀器不必要的污染,對於檢驗樣品的限制:

  • 場發射槍電鏡的亮度(一般亮度比,:LaB6:場發射鎗=1:10:1000)為一般傳統鎢絲電鏡的1000,其電子束照射試片所產生的溫度會更高,故低熔點的材料如:,錫等,會產生相變及蒸鍍效應,請勿預約本機台.

  • 在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品及有機物,高分子,粉末材料等,因有礙真空維持恕不服務(ps.以銅網撈取或以溶劑散佈方式取樣的試片,因在高真空環境下附著不良,暫不服務)

  • 使用者必需詳細說明試片之製作方式,若有可能造成真空腔的污染,本單位有權拒絕受理。

  • 若因試片處理不當而造成儀器污染或損壞時,須負責賠償,賠償費用由原廠評估再由管理委員會決議後執行並暫停儀器之使用權。



 
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