場發射電子微探儀 EPMA000300
epma

Field Emission Electron Probe Microanalyzer, JEOL JXA-8530F Plus

ULVAC VPS-020 Quick Coater

快速鍍碳機



參考資料

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, J. I. Goldstein et al. Practical Techniques for Microprobe Analysis, JEOL

材料電子顯微鏡學,陳力俊等著,國科會精儀中心,1990



參考圖片


 
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