高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡 EM003900
em5

 

LEO 1530 Field Emission Scanning Electron Microscope 附加Energy Dispersive Spectrometer and Orientation Image Microscopy

ULVAC VPS-020 Quick Coater

快速鍍碳機



參考資料

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, J. I. Goldstein et al. Practical Techniques for Microprobe Analysis, JEOL  

材料電子顯微鏡學,陳力俊等著,國科會精儀中心,1990



 
Copyright © 2013 臺灣大學貴重儀器中心 - All Rights Reserved. │ 地址:10617 臺北市羅斯福路四段一號 │ TEL:(02)3366-8658