電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡(液態樣品與軟物質) EM024500

場發射穿透式電子顯微鏡(液態樣品與軟物質)
Field Emission Transmission Electron Microscope(liquid samples and soft matters)

英文簡稱:
FE-TEM + EDS + in situ liquid/electrochemistry holder


臺大化學系陳浩銘老師實驗室童敬維博士,與本中心簡佳盈技術員合作,以TEM在本研究的服務並非制式的操作,需經由聚焦離子束(FIB)的樣品處理後,取得剖面切割的鎳沉積-矽微米柱體樣品(200×400μm2),並且將該樣品於高解析TEM進行影像分析,取得在光激活氧氣產生反應時,自適應生長的鎳矽層奈米結構的重要證據。該層結構生成在金屬及半導體界面,以高解析TEM可以分析出此層結構有別於金屬及矽基板的原子排列。經由此分析技術可以了解不同催化條件下層結構的生成與否,且此次反應機制的分析結果有助於未來發展理想的光催化電極。此成果發表於 "Advanced Energy Materials" (IF:24.884;Ranking:2% in Energy & Materials Science),並獲選為期刊封底。


 
 
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