儀器代碼
EM022500、EM0225
服務亮點
SEIKO SMI3050SE
Dual-Beam FIB
中文名稱
雙鎗型離子束顯微鏡
JEOL JSM-7600F
Maximum Acc. V : 30 kV
場發射掃描式電子顯微鏡